Expertise en microscopie appliquée au développement et à l'analyse

 

L'équipe Microscopie appliquée au développement et à l'analyse du Centre de recherche en nanotechnologie est formée de scientifiques à l'esprit novateur, chevronnés en microscopie électronique, ionique et à sonde de balayage. Elle se démarque particulièrement par son talent à concevoir, à fabriquer et à adapter les microscopes en fonction des enjeux, toujours changeants, de la science et de la technologie.

Principaux champs d'expertise

  • Spectroscopie des pertes d'énergie des électrons (EELS) avancée
  • Conception, développement et application d'instruments et de systèmes à déplacement piézoélectrique
  • Acquisition et traitement de données et d'images
  • Développement de la microscopie électronique des plaques de phase sans solution de continuité et des applications cryogéniques pour l'analyse des spécimens biologiques et des matériaux mous
  • Conception de systèmes électriques
  • Nanopointes émettant des électrons et des ions
  • Cristallographie électronique
  • Microscopie électronique à transmission (TEM) environnementale ou in situ et cryomicroscopie à faisceau d'ions focalisés (FIB) pour l'analyse des spécimens biologiques et des matériaux mous
  • Microscopie ionique de champ
  • Conception d'instruments
  • Tomographie électronique quantitative
  • Microscopie à effet tunnel/à force atomique (STM/AFM) à basse température
  • Microscopie à effet tunnel multisonde
  • Intégration des systèmes de microscopie, micro-usinage, automatisation, programmation et commandes
  • Étude des dommages causés par les rayonnements des faisceaux d'électrons

Nos experts

Mark Salomons

Mark Salomons

Chef d'équipe

  • Conception d'instruments
  • Mouvements à l'échelle du nanomètre
  • Microscopie à sonde de balayage (SPM)

Courriel : Mark.Salomons@nrc-cnrc.gc.ca
Téléphone : 780-641-1733

Darren Homeniuk

Darren Homeniuk

  • Automatisation
  • Conception de systèmes électriques
  • Programmation
Misa Hayashida

Misa Hayashida

  • Imagerie 3D
  • Tomographie électronique
  • Microscopie électronique à faisceau d'ions focalisés
  • Traitement de l'image
Jian Chen

Jian Chen

  • Cristallographie électronique
  • TEM environnementale
  • TEM à haute résolution et simulation d'images
Doug Vick

Doug Vick

  • Cryo FIB
  • Microscopie à faisceau d'ions focalisés
Jason Pitters

Jason Pitters

  • Lithographie à l'échelle de l'atome
  • Points quantiques atomiques et électronique à l'échelle de l'atome
  • Sources d'ions et d'électrons
  • Microscopie à effet tunnel
Marek Malac

Marek Malac

  • Dommages causés par les rayonnements électroniques
  • Imagerie des plaques de phase
  • Microscopie électronique quantitative
  • TEM, EELS et EELS à résolution spatiale (qEELS)
Martin Cloutier

Martin Cloutier

  • Automatisation et commandes
  • Acquisition et traitement des données
  • Intégration des systèmes de microscopie
Jae-Young Cho

Jae-Young Cho

  • Caractérisation des nanomatériaux mous par microscopie électronique et SPM
  • Caractérisation in situ (en solution, à température élevée ou très basse)
Kai Cui

Kai Cui

  • Cryomicroscopie électronique à transmission
  • Spectroscopie des pertes d'énergie des électrons
  • Microscopie à faisceau d'ions focalisés
Drew Price

Drew Price

  • Conception électronique
  • Systèmes ultravide
  • Électronique à haute tension