L'équipe Microscopie appliquée au développement et à l'analyse du Centre de recherche en nanotechnologie est formée de scientifiques à l'esprit novateur, chevronnés en microscopie électronique, ionique et à sonde de balayage. Elle se démarque particulièrement par son talent à concevoir, à fabriquer et à adapter les microscopes en fonction des enjeux, toujours changeants, de la science et de la technologie.
Projets
Principaux champs d'expertise
- Spectroscopie des pertes d'énergie des électrons (EELS) avancée
- Conception, développement et application d'instruments et de systèmes à déplacement piézoélectrique
- Acquisition et traitement de données et d'images
- Développement de la microscopie électronique des plaques de phase sans solution de continuité et des applications cryogéniques pour l'analyse des spécimens biologiques et des matériaux mous
- Conception de systèmes électriques
- Nanopointes émettant des électrons et des ions
- Cristallographie électronique
- Microscopie électronique à transmission (TEM) environnementale ou in situ et cryomicroscopie à faisceau d'ions focalisés (FIB) pour l'analyse des spécimens biologiques et des matériaux mous
- Microscopie ionique de champ
- Conception d'instruments
- Tomographie électronique quantitative
- Microscopie à effet tunnel/à force atomique (STM/AFM) à basse température
- Microscopie à effet tunnel multisonde
- Intégration des systèmes de microscopie, micro-usinage, automatisation, programmation et commandes
- Étude des dommages causés par les rayonnements des faisceaux d'électrons
Nos experts
Mark Salomons
Chef d'équipe
- Conception d'instruments
- Mouvements à l'échelle du nanomètre
- Microscopie à sonde de balayage (SPM)
Courriel : Mark.Salomons@nrc-cnrc.gc.ca
Téléphone : 780-641-1733
Darren Homeniuk
- Automatisation
- Conception de systèmes électriques
- Programmation
Misa Hayashida
- Imagerie 3D
- Tomographie électronique
- Microscopie électronique à faisceau d'ions focalisés
- Traitement de l'image
Jian Chen
- Cristallographie électronique
- TEM environnementale
- TEM à haute résolution et simulation d'images
Doug Vick
- Cryo FIB
- Microscopie à faisceau d'ions focalisés
Jason Pitters
- Lithographie à l'échelle de l'atome
- Points quantiques atomiques et électronique à l'échelle de l'atome
- Sources d'ions et d'électrons
- Microscopie à effet tunnel
Marek Malac
- Dommages causés par les rayonnements électroniques
- Imagerie des plaques de phase
- Microscopie électronique quantitative
- TEM, EELS et EELS à résolution spatiale (qEELS)
Martin Cloutier
- Automatisation et commandes
- Acquisition et traitement des données
- Intégration des systèmes de microscopie
Jae-Young Cho
- Caractérisation des nanomatériaux mous par microscopie électronique et SPM
- Caractérisation in situ (en solution, à température élevée ou très basse)
Kai Cui
- Cryomicroscopie électronique à transmission
- Spectroscopie des pertes d'énergie des électrons
- Microscopie à faisceau d'ions focalisés
Patrick Price
- Conception électronique
- Systèmes ultravide
- Électronique à haute tension