Rôles et responsabilités

La caractérisation DC I-V, I-V pulsée, C-V et LCR et des paramètres S en RF ainsi que les calibrations et mesures RF de 1mHz à >50GHz avec les câbles coaxiaux et les guides d’ondes.

Caractérisation de la résistivité ohmique de contact, et la capacitance des matériaux.

Automatisation des instruments et des mesures avec LabVIEW, SCPI, SICL, GPIB, RS232, USB et LAN.   Traitement automatisé des jeux de données avec LabVIEW et Origin.

Recherche et / ou projets en cours

Expérience avec la caractérisation des dispositifs semi-conducteurs  électriques et opto-électriques tels que les transistors, diodes, détecteurs, lasers, condensateurs, inducteurs, les lignes de transmission et les batteries.

Expérience avec la caractérisation de transistors fait des matériaux suivants : GaN (HEMT), InP (HEMT, HBT, FET), SiGe (HBT), électronique imprimable, organiques et CNT.

Craig Storey

Agent(e) technique
Électronique et photonique avancées
1200, chemin de Montréal
Ottawa, Ontario K1A 0R6
Langue préférée : anglais
Téléphone : 613-998-5303

Expertise

Matériaux, Équipement scientifique, Technologie, Logiciel, Microélectronique